Характеристики средств измерительной техники. Погрешности средств измерений

Заметим, что при имитационном методе поверки средства измерения в формуле (5) вместо шкалы N подставляется нормированное значение шкалы, соответствующее градуировочному характеристикам.

Вариацией называется наибольшая разница между двумя показами средства измерения, когда одно и то же истинное значение измеряемой величины достигается в результате его увеличения или уменьшения: В = Асб - Азм.

Кроме того, погрешности средств измерений подразделяются на статические и динамические.

Статические погрешности имеют место при измерении величины после окончания переходных процессов в элементах и ​​преобразователях средства измерения.

Динамические погрешности возникают при измерении переменных величин и обусловленные инерционными свойствами средств измерений.

Статические погрешности в свою очередь делятся на случайные и систематические. При технических измерениях физических величин как на процесс измерения, так и на измеряемую величину действуют факторы, возникновение которых имеет стохастический характер по непредвиденной интенсивности. Факторы влияния как появляются, так и исчезают внезапно, их возникновения невозможно предсказать в заданном интервале времени.

В общем случае случайные погрешности следует рассматривать как случайную функцию времени, измеряемой величины и внешних факторов.

Систематические погрешности в общем случае функцией измеряемой величины факторов воздействия (температуры, влажности и др.)., Конструктивных характеристик средств измерений и методов измерений.

Систематическая погрешность средств измерительной техники (СИТ) остается постоянной или закономерно изменяется, поэтому ее всегда можно учесть при конечных результатах измерения.

Систематические погрешности определяются при поверка и аттестациях образцовых и рабочих ОТО, а в результатах измерения учитываются как поправки с противоположным знаком. Поправка в каждой оцифрованной точке шкалы численно равна систематической погрешности и обратная к ней за знаком.

Систематические погрешности как функцию измеряемой величины можно показать как сумму погрешностей схемы, которая определяется самой структурой средства измерений, и технологических ошибок, обусловленных погрешностями изготовления элементов этого средства. Погрешности схемы и технологические погрешности можно рассматривать как систематические лишь при измерении постоянной измеряемой величины с помощью одного образца средства измерений. В общей же массе измерений физических величин с помощью многих средств измерений получены систематические погрешности следует относить к классу случайных.

Добавить комментарий: